Réticule de mesure 5mm VEE GEE pour microscopes 1270

Réticule de mesure micrométrique VEE GEE Scientific

Le réticule de mesure 5mm VEE GEE s'intègre parfaitement aux systèmes optiques pour offrir une clarté exceptionnelle lors des analyses quotidiennes. Conçu spécifiquement pour les modèles de microscopes 1270, cet accessoire optique de haute qualité transforme votre équipement standard en un outil de métrologie performant.

Caractéristiques et graduations de précision

Grâce à ses 100 divisions réparties sur une échelle totale de 5 mm, chaque intervalle garantit une exactitude rigoureuse pour l'observation des microstructures. L'œil accède ainsi à un repère visuel constant, éliminant les approximations lors de la numération ou de l'évaluation dimensionnelle des échantillons.

• Modèle compatible : Série 1270
• Échelle totale : 5 mm avec 100 divisions
• Champ de vision (F.O.V.) : 20 mm
• Grossissement : Adapté pour 10 oculaires

Optimisation du flux de travail en laboratoire

Dans un environnement de recherche ou de contrôle qualité, le gain de temps est mesurable dès la première utilisation. Ce disque optique se place directement dans l'oculaire pour permettre des mesures en temps réel sans nécessiter de logiciels tiers. Les techniciens bénéficient d'un confort visuel accru, ce qui réduit la fatigue oculaire lors des sessions d'analyse prolongées.